Experimental and numerical study of the ionization-attachment instability in an O2 capacitively coupled radio frequency plasma

2025

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Hybrid Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1361-6595/adcb6b
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Abstract This study examines the emergence of an ionization-attachment plasma instability in a geometrically symmetric capacitively coupled plasma reactor with stainless steel electrodes operated in oxygen. Periodic fluctuations in optical emission intensity were observed under varying conditions of pressure and voltage. To interpret the experimental data, a kinetic (PIC/MCC) simulation approach was employed, with a particular focus on the influence of external parameters, including the voltage amplitude and the O 2 + ion induced secondary electron emission coefficient (SEEC, γ). By varying the γ coefficient at fixed pressure and voltage amplitude, the aim was to achieve the best possible agreement between the measured and computed oscillation frequencies. The experimentally observed oscillation frequency of f in = 0.25 kHz at φ 0 = 655 V voltage amplitude (with 13.56 MHz RF excitation) was reproduced in the simulation with γ = 0.0042 at φ 0 = 600 V. The results highlight the critical role of these parameters in the onset and characteristics of plasma instability and correspond to a computationally assisted diagnostic to determine ion induced secondary electron emission coefficients.