Whisker microcrystals on the surface of tantalum–cadmium alloy films

2015

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1134/s1063785015060139
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Whiskers crystals were discovered in the tantalum–cadmium (56.6 at % Cd) solid solutions formed by in-turn deposition of the superfine tantalum and cadmium particles sputtered in low-pressure plasma on a moving substrate. The SEM studies have revealed whiskers crystals with a density of 2 per cm 2 . It was hypothesized assumption that formation may occur of whiskers crystals in the film.