Optical reflectivity based on the effective interaction potentials of xenon plasma

Erik O. Shalenov, S. Rosmej, H. Reinholz, GERD RÖPKE, Джумагулова Карлыгаш Нурмановна, Tlekkabul S Ramazanov

2017

Жабық қол жеткізу Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1002/ctpp.201700104
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

New results on the reflectivity and Brewster angle of dense xenon plasmas based on of the effective interaction potentials (which take into account static and dynamic screening effects) at pressures of 1.6–20 GPa and temperatures of ∼30,000 K are presented. Using Fresnel formulas, the reflectivity coefficients for the s‐ and p‐polarized laser waves are investigated. The influence of atoms, which was taken into account at the level of collision frequency via an effective interaction potential, is proven to be crucial for understanding the reflection process.