Ultrafast electron cooling in Ti3C2Tx MXene revealed by time-resolved photoemission spectroscopy

2026

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Hybrid Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1016/j.diamond.2026.113690
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Ultrafast electron dynamics in a Ti3C2Tx MXene thin film (where Tx denotes surface terminations) were investigated using time-resolved photoemission spectroscopy with temporal resolution of 110 fs. Near-infrared optical excitation at 800 nm induces a transient redistribution of electronic states in the vicinity of the Fermi level, which is directly probed using extreme-ultraviolet (26.5 eV) pulses. The measured signal reveals a rapid modification of the electronic distribution immediately after excitation, followed by relaxation on sub-0.5 picosecond timescales, as quantified by the evolution of the electronic temperature. These results provide direct insight into hot-electron lifetimes and open the study of relaxation pathways in MXene thin films, establishing a framework for further understanding and optimizing their performance.