In-situ determination of the effective secondary electron emission coefficient in helium and neon capacitively coupled RF plasmas

2026

Толық мәтін Ашық қол жеткізу: Hybrid Метадеректер (CSL-JSON)
DOI 10.1088/1361-6463/ae4993
Деректер сенімділігі 70 орташа
Бұл баға қалай есептеледі

Ол жазбаның өзінің тексерілетін белгілерінен құралады: мақаланың DOI-і бар ма, оның деректерін қанша тәуелсіз дереккөз растады, міндетті өрістер толтырылған ба және соңғы растау қаншалықты жаңа. Дереккөздер арасындағы алшақтық пен идентификатордың болмауы бағаны төмендетеді. 80-нен бастап мән жазбаның қосымша тексерусіз жарияланғанын, 60-тан 79-ға дейін — оның сенімділігі төмен күйде жарияланғанын және қолмен тексеру ұсынылатынын білдіреді. Редактор қолмен тексерген жазбаны қайта есептеу 90-нан төмен түсірмейді. Бұл — мақаланың өзіне емес, ол туралы деректерімізге берілген баға.

Аңдатпа

Abstract Building on our previous study in argon gas, we extend our approach to helium and neon capacitively coupled plasmas, which allows the effective secondary-electron emission coefficient (SEEC, γ ) to be determined in-situ under discharge operation. The method relies on the γ -dependence of the DC self-bias voltage, which arises due to the electrical asymmetry effect (EAE). The EAE is induced by applying two consecutive radio-frequency harmonics with a variable phase angle to excite the discharge. Experimental measurements of the DC self-bias voltage are complemented by particle-in-cell/Monte Carlo collisions simulations. A sequence of SEEC values is used in the simulations, and the actual γ is determined by matching the computed DC self-bias to the experimental value. Applying this method at a driving frequency of 4 MHz, we obtain effective γ values of 0.105 and 0.165 for helium at 120 Pa and 240 Pa, respectively, and 0.072 and 0.103 for neon at 80 Pa and 160 Pa, respectively, with an estimated uncertainty of ±0.01.